AFE5010 Digitale Elektronik-Experimentierbox Lehrgeräte Pädagogisches Mikroprozessor-Trainingsgerät
1. Produkteinführung:
Diese digitale Lernmaschine für elektrische Schaltungen bietet verschiedene Signalquellen. Die Vorderseite ist mit einem Leiterplattenlayout versehen, die Rückseite ist für die Bestückung mit Bauteilen ausgelegt. Alle Signalquellen und Frequenzmesser bestehen aus CPLD-Chips und doppelseitigen Platinen. Alle Bauteile sind von hoher Qualität, was die Gesamtqualität der Maschine verbessert. Da die Bauteile auf der Rückseite bestückt sind, wird das Risiko von Beschädigungen durch den Benutzer minimiert.
Produktmerkmale: Einfache Bedienung, robust, flexible Experimentiermöglichkeiten, einfache Durchführung verschiedener digitaler Simulationsexperimente. Dieses Produkt eignet sich für den Elektronikunterricht an Hochschulen und Berufsschulen. 2. Systeminhalt:
1) Stromversorgung: AC-Eingang: 220 V ± 10 %, 50 Hz
DC-Ausgang: ± 12 V/200 mA, 5 V/2 A
2) Manuelle Monopuls-Schaltung mit zwei Gruppen: Sie kann gleichzeitig positive und negative Impulse ausgeben. Die Impulsamplituden entsprechen dem TTL-Pegel. 3) Kontinuierliche Impulse (Gruppe): Ausgang ist ein TTL-Pegel.
Impulsquelle mit fester Frequenz: 1 Hz, 1 kHz, 10 kHz, 100 kHz, 1 MHz
4) Hochpräziser 6-Bit-Digitalfrequenzmesser, Messbereich: 0–9,9999 MHz, Fehler < 1 Hz (CPLD-Chip)
5) Ausgang und Anzeige des Logikpegels.
A) Unabhängiger 8-Bit-Logikpegelschalter: Gibt die Pegel „0“ und „1“ aus (positive Logik).
B) Logikpegelanzeige mit 8-Bit-LED und Ansteuerschaltung.
6) Nixie-Röhrenanzeige
A) 4-Bit-BCD-Code-Dekodierungsschaltung mit LED-Nixie-Röhre.
B) 1-Bit-8-Segment-Nixie-Röhre mit vollständig herausgeführten Pins (für Nixie-Röhren-Experimente).
7) 21-polige, 14-polige, 16-polige, 20-polige, 28-polige und andere runde Lochfassungen. Kompatibel mit verschiedenen IC-Chips.
8) Vier Potentiometer mit jeweils einem Widerstandswert
9) 30 Widerstands-/Kapazitätsmodule in Standardgröße
3 Empfohlene Experimente
1) Parameterprüfung und Anwendung von TTL-Logikgattern
2) Prüfung von CMOS-Logikgattern
3) Experiment zur Logikfunktion von Gatterschaltungen
4) Prüfung gängiger Logikbausteine
5) Experimente mit Halbaddierern, Volladdierern und logischen Operationen
6) Schaltung für eine Sieben-Personen-Wahl und eine Blutgruppenbestimmung
7) Prüfung der Triggerfunktion
8) Prüfung der JK- und D-Triggerlogik und ihrer Hauptparameter
9) Drei-Zustands-Ausgangstrigger und -Latch
10) Experiment mit einem asynchronen Binärsystemzähler
11) Experiment mit einem synchronisierten Binärsystemzähler
12) Prüfung der Schieberegisterfunktion
13) Experiment mit einer Zähl-, Dekodierungs- und Anzeigeschaltung
14) 555-Schaltung und Anwendung
15) Wellenerzeugung und monostabiler Trigger
16) Entwurf eines Sequenzdetektors
17) Manuelle Ampelsteuerung 18) Entwurf einer digitalen elektronischen Uhr
19) Digitales Frequenzmessgerät
20) Experiment zur Ansteuerung von Autorücklichtern
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untersuchung.
