AFE5010 Digitale Elektronik-Experimentierbox Lehrgeräte Pädagogisches Mikroprozessor-Trainingsgerät
Produkteinführung:
Digitale elektrische Schaltungslernmaschinen bieten verschiedene Signalquellen, Vorderseitendruckzeichenverdrahtung, Rückseite installieren die Komponente, alle Signalquellenfrequenzmesser bestehen aus CPLD-Chip und doppelseitiger Platine, alle Komponenten passen hochwertiges Produkt an, verbessern das Ganze Maschinenqualität. Da die Komponenten auf der Reserveseite installiert sind, kann die Möglichkeit von menschengemachten Schäden reduziert und vermieden werden.
Produkteigenschaft: einfach zu bedienen, langlebig, Experimentierprojekt flexibel, es einfach, verschiedene digitale Simulationsexperimente durchzuführen. Dieses Produkt ist für den elektronischen Technikunterricht von Hochschulen und verschiedenen Berufsfachschulen geeignet.
Systeminhalt
1. Stromversorgung: AC-Eingang: 220V±10%, 50HZ
DC-Ausgang: ±12V/200mA, 5V/2A
Manuelle Monopuls-Stromkreis zwei Gruppe: Es kann in der Zwischenzeit die positiven und negativen Impulse ausgeben, die Impulsamplituden sind TTL-elektrischer Pegel.
Kontinuierliche Impulse eine Gruppe: Ausgang ist elektrischer TTL-Pegel.
Festfrequenz-Impulsquelle: 1HZ,1KHZ,10KHZ,100KHZ,1MHZ
4. Sechs-Bit-Hochpräzisions-Digitalfrequenzmesser, Messbereich: 0-9.9999 MHz Fehler < 1 Hz (Design von CPLD-Chip)
5. Die Ausgabe und Anzeige des Logikpegels.
A Unabhängiger Acht-Bit-Logikpegelschalter: Er kann den elektrischen Pegel „0“, „1“ ausgeben ( es handelt sich um eine positive Logik.
B Der logische elektrische Pegel, der durch die rote 8-Bit-LED und den elektrischen Stromkreis des Antriebs gebildet wird
6. Nixie-Röhrenanzeige
Ein Vier-Bit-BCD-Code-Dekodierungsanzeige-Stromkreis, der aus einer LED-Nixie-Röhre besteht.
B Ein-Bit-Nixie-Röhre mit acht Segmenten, Stift vollständig herausgeführt, wird für Nixie-Röhren-Experiment verwendet.
CCD-Timing-Generator und elektrischer Stromkreis für die Start- und Stoppsteuerung
21 acht Kerne, vierzehn Kerne, sechzehn Kerne, zwanzig Kerne, achtundzwanzig Kerne und andere Rundloch-Sockel. Es kann verschiedene IC-Chips treffen.
9. Vier jedes Widerstandswertpotentiometer
10. 30 Widerstand-Kapazität in normaler Größe
Empfohlenes Experimentprojekt
Der Parametertest und die Verwendung von TTL-integrierten Logikgattern
Das Testen von CMOS-integrierten Logikgattern
3. Das Logikfunktionsexperiment des Gate-Stromkreises
4. Prüfung von Logikfunktionskomponenten für gängige Kombinationen
5. Halbaddierer, Volladdierer und logisches Operationsexperiment
6. Wahlkreis für sieben Personen und Stromkreis zur Blutgruppenerkennung
7. Funktionstest auslösen
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untersuchung.
